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| 序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
| 1 | CN101458299A | 现场可编程门阵列单粒子效应测试方法 | 2009.06.17 | 现场可编程门阵列单粒子效应测试方法，涉及集成电路技术。本发明包括下述步骤：1)去除FPGA封装外壳， |
| 2 | CN101488746A | 现场可编程门阵列 | 2009.07.22 | 现场可编程门阵列，涉及集成电路。本发明包括CLB、SB和CB，SB左边编号为i的连接端与上边编号为[ |
| 3 | CN101488747A | 一种LUT结构和FPGA | 2009.07.22 | 一种LUT结构，涉及集成电路技术。本发明包括下述单元：地址预编码单元，具有两个2输入接口，通过两个4 |
| 4 | CN101452050B | 一种IOB测试方法 | 2011.05.18 | 一种IOB测试方法，涉及集成电路技术，特别涉及对FPGA的检测技术。本发明包括以下步骤：1)串联所有 |
| 5 | CN101488746B | 现场可编程门阵列 | 2011.04.20 | 现场可编程门阵列，涉及集成电路。本发明包括CLB、SB和CB，SB左边编号为i的连接端与上边编号为[ |
| 6 | CN101464492B | FPGA及配置PROM抗总剂量测试方法 | 2011.04.20 | FPGA及配置PROM抗总剂量测试方法及专用电路板，涉及集成电路技术，本发明的专用电路板包括电源接口 |
| 7 | CN101153892B | 现场可编程门阵列输入输出模块验证方法 | 2010.09.01 | 现场可编程门阵列输入输出模块验证方法，涉及集成电路技术，包括以下步骤：1)用计算机软件预定义输入输出 |
| 8 | CN101212222B | 一种可编程开关矩阵 | 2010.05.19 | 一种可编程开关矩阵，涉及集成电路技术。本发明包括多个引线和对角线排列的开关节点，其特征在于，在开关节 |
| 9 | CN101212224B | 可编程开关矩阵结构 | 2010.05.19 | 可编程开关矩阵结构，涉及集成电路技术。其结构中含有多个引线和以对角线排列的开关节点，包括至少一根引线 |
| 10 | CN101685668A | 低泄漏功耗SRAM存储单元结构 | 2010.03.31 | 低泄漏功耗SRAM存储单元结构，涉及集成电路技术。本发明包括由MOS管构成的存储单元，其特征在于，在 |
| 11 | CN101510776A | FPGA布线可编程开关结构 | 2009.08.19 | FPGA布线可编程开关结构，涉及集成电路技术。本发明包括配置电路、第一SRAM和MOS开关，MOS开 |
| 12 | CN101505148A | 一种CLB结构及CLB优化方法 | 2009.08.12 | 一种CLB结构及CLB优化方法，涉及集成电路技术。本发明由3个2输入LUT组成，其中第一LUT和第二 |
| 13 | CN101464492A | FPGA及配置PROM抗总剂量测试方法及专用电路板 | 2009.06.24 | FPGA及配置PROM抗总剂量测试方法及专用电路板，涉及集成电路技术，本发明的专用电路板包括电源接口 |
| 14 | CN101464918A | PC端通过并口电缆进行JTAG配置的方法 | 2009.06.24 | PC端通过并口电缆进行JTAG配置的方法，涉及集成电路技术。本发明在Unprogrammed和Pro |
| 15 | CN101452050A | 一种IOB测试方法 | 2009.06.10 | 一种IOB测试方法，涉及集成电路技术，特别涉及对FPGA的检测技术。本发明包括以下步骤：1)串联所有 |
| 16 | CN101447787A | 现场可编程门阵列 | 2009.06.03 | 现场可编程门阵列，涉及集成电路技术。本发明包括SRAM单元，还包括刷新电路，所述SRAM单元由MOS |
| 17 | CN100492380C | 现场可编程门阵列查找表验证方法 | 2009.05.27 | 现场可编程门阵列查找表验证方法，涉及集成电路技术，包括以下步骤：1)用软件预设目标LUT测试向量和对 |
| 18 | CN100492538C | 非易失性可编程逻辑电路架构 | 2009.05.27 | 非易失性可编程逻辑器件架构，主要涉及电子技术，特别涉及集成电路技术。本发明包括第一控制电路和第二控制 |
| 19 | CN101212222A | 一种可编程开关矩阵 | 2008.07.02 | 一种可编程开关矩阵，涉及集成电路技术。本发明包括多个引线和对角线排列的开关节点，其特征在于，在开关节 |
| 20 | CN101212224A | 可编程开关矩阵结构 | 2008.07.02 | 可编程开关矩阵结构，涉及集成电路技术。其结构中含有多个引线和以对角线排列的开关节点，包括至少一根引线 |
| 21 | CN101153892A | 现场可编程门阵列输入输出模块验证方法 | 2008.04.02 | 现场可编程门阵列输入输出模块验证方法，涉及集成电路技术，包括以下步骤：1)用计算机软件预定义输入输出 |
| 22 | CN101140596A | 现场可编程门阵列查找表验证方法 | 2008.03.12 | 现场可编程门阵列查找表验证方法，涉及集成电路技术，包括以下步骤：1)用软件预设目标LUT测试向量和对 |
| 23 | CN101083136A | 非易失性可编程逻辑电路架构 | 2007.12.05 | 非易失性可编程逻辑器件架构，主要涉及电子技术，特别涉及集成电路技术。本发明包括第一控制电路和第二控制 |
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